双通道同步探测：集成两个独立光电探测器通道，可同时测量两路光信号功率 / 损耗
宽波段高灵敏度：适配 C‑band（1525–1565 nm），用于高精度 IL/PDL/PMD 测试
系统集成：作为 SWS 系统前端接收单元，配合扫频光源完成器件 / 链路的波长相关参数扫描测试
典型应用
光器件（DWDM、AWG、滤波器、耦合器）的插入损耗 IL、偏振相关损耗 PDL、偏振模色散 PMD 测试
光纤链路、光模块、无源器件的波长扫描分析
研发 / 量产阶段的高精度、高重复性光电检测
关键特点
双通道集成：节省空间与成本，替代传统多模块组合方案
紧凑型设计：独立机箱，便于桌面部署或系统集成
高稳定性：低噪声、高线性度，适合精密测量场景
标准接口：FC/APC 光口，适配主流光纤连接器
