安藤ANDO AQ6317B光谱分析仪

品牌:安藤(ANDO)
名称:安藤ANDO AQ6317B光谱分析仪
型号:AQ6317B
成色:
发货时间:7天
保修时间:30天
是否计量:否
电议

产品详情

一、产品介绍


AQ6317B 是日本 ANDO(后并入横河 Yokogawa)经典台式高精度光学光谱分析仪,是光通信行业 C/L 波段 WDM 器件、有源光源测试标杆机型,主打 600~1750nm 全近红外波段覆盖,凭借超高波长精度、宽动态范围、内置专用分析算法,长期用于光器件量产质检、实验室研发、通信系统验证,市面存量二手仪器仍是光电实验室主力 OSA 设备。

二、主要参数

1.波长指标

2.光功率与动态范围

功率测量区间:-90dBm ~ +20dBm(100mW)(1200~1650nm 高灵敏模式)

动态范围:60dB(峰值 ±0.2nm,0.01nm 分辨率);70dB(峰值 ±0.4nm,适配 50GHz 间隔密集 WDM 信号)

电平精度:±0.3dB;电平线性:±0.05dB(-50~+10dBm 输入区间)

偏振相关性 PDL:≤±0.05dB(1310/1550/1600nm),低偏振误差适配无源滤波器件测试

3.机械与配套

适配光纤:单模 SMF、多模 GI 50/125μm,标配 FC/SC 光学输入口

扫描速度:全量程≤500ms(跨度≤100nm)

存储:32 条光谱轨迹、20 组自定义测试程序;接口:GPIB 程控总线

三、应用场景

1. 有源光器件测试(激光器 / 光源)

LD 激光二极管:测中心波长、边模抑制比 SMSR、RIN、激射光谱、温漂波长偏移;

LED / 宽带光源:光谱平坦度、峰值波长、半高宽 FWHM、ASE 噪声光谱;

SLED 超辐射光源:宽带光谱平整度、工作带宽筛选,光纤传感光源出厂检测。

2. WDM 波分复用系统 & 无源器件(通信主力场景)

DWDM/CWDM 合分波器(MUX/DEMUX):通道中心波长、插入损耗、隔离度、通带波纹、阻带抑制、带宽;适配 50GHz/100GHz 间隔密集波分器件批量测试;

各类光滤波器:薄膜滤波片 TFF、光栅滤波器件,测滤波截止波长、插损、陡峭度;

光耦合器、PLC 分路器:全波段损耗均匀性、波长相关损耗 WDL 测试。

3. 光纤光栅 FBG & 传感领域

FBG 光纤布拉格光栅:反射波长、反射率、3dB 带宽、边瓣抑制,用于光纤测温 / 应变传感元件筛选,是光纤光栅产线标配 OSA。

4. EDFA 掺铒光纤放大器测试

利用内置 ASE 插值算法,自动测试增益谱、噪声系数 NF、饱和输出功率、增益平坦度;搭配脉冲法模块可精准评估 WDM 干线放大器性能。

5. 科研与特种光学

600~1100nm 可见光 / 近红外光源、VCSEL、泵浦激光器光谱标定;

光子芯片、铌酸锂调制器、光无源集成芯片透射 / 反射光谱研发测试;

光纤、特种光纤全波段损耗谱测试(1310/1550 窗口损耗曲线)。