一、设备基础分类
产品类型：18 槽标准 PXI Express 测试机箱（主机箱背板载体）
品牌型号：National Instruments NI PXIe-1065
定位：中型多槽 PXIe 机箱，适配自动化 ATE、HIL 硬件在环、多通道混合测试系统
配套模块：兼容全部 3U PXI / PXIe 模块（SMU、开关、数字 IO、串口、FlexRIO 等）
二、核心硬件规格
1. 插槽布局（总计 18 槽）
Slot 1：系统控制器槽（插 PXIe-8840/8880 嵌入式控制器，或 PXIe-8370 远程扩展模块）
Slot 2：系统同步时钟槽（星型触发背板，多模块精准时序同步）
混合槽 ×4：兼容老式 PXI 模块 + PXIe 高速模块
纯 PXIe 槽 ×3：Gen2 高速 x4 PCIe 带宽
纯 PXI 槽 ×9：传统 PXI 3U 模块通用插槽
2. 背板与同步能力
内置差分星型触发总线（DSTAR A/B/C），全槽同步触发，抖动极低
背板带宽：PXIe Gen2，单槽双向 4GB/s 吞吐，适配高速 SMU、数字 IO、FlexRIO
支持 PXI_CLK10 系统全局 10MHz 参考时钟，整机箱仪器时钟同源
3. 供电与散热
内置大功率冗余电源，满载支持全部 18 槽模块同时满功率运行
后部可调速散热风扇（Auto/High 两档），风道前后贯通，高温实验室稳定运行
带过温、过流、短路硬件保护，过热自动锁止输出并指示灯告警
4. 物理外观
机架标准：4U 高度，可选机架安装套件上架，桌面可拆卸支撑脚垫
两侧带便携提手，方便实验室搬运
后背接口：AC 电源输入、电源断路器、接地柱、风扇调速开关
三、典型应用场景
汽车电子 HIL 台架：多路 SMU、故障注入开关、串口、数字 IO 集成机柜
半导体芯片并行 ATE 测试：高密度矩阵开关 + 多通道精密 SMU 组合
高速数字信号测试：搭配 FlexRIO 6583 高速数字 IO 做总线仿真
多通道电源、传感器、线束综合自动化测试平台
