一、产品概述
SMA100B‑B120 为高端**模拟微波信号源**，B120 代表 8kHz‑20GHz 频率选件，以超低相位噪声、低谐波失真、大功率输出为核心优势；适合雷达、卫星通信、射频元器件、5G FR1 器件的精密测试，支持 AM/FM/ 脉冲调制，可集成到自动化 ATE 测试系统罗德与施瓦...。
二、核心技术参数
1. 频率范围：**8 kHz‑20 GHz**，频率分辨率 0.001 Hzassets-us-...
2. 相位噪声：1 GHz，10 kHz 偏移‑152 dBc/Hz（典型）；10 GHz，10 kHz 偏移‑132 dBc/Hz（典型）
3. 标准输出功率：20 GHz 处 +17 dBm；12.75 GHz 处 + 18 dBm，可增配高功率选件最高＞+30 dBmGLORIS Roh...
4. 功率范围：‑140 dBm ~ +17 dBm（标配）
5. 调制能力：AM、FM、PM、脉冲调制；最小脉冲宽度＜20 ns，上升时间 5 ns（典型）GLORIS Roh...
6. 射频接口：2.92‑mm（K 型），50Ω 阻抗
7. 操作屏幕：12.1 英寸彩色触控显示屏
8. 程控接口：LAN、USB、GPIB，全面支持 SCPI 指令，适配自动化产线测试
三、关键特性
‑业界一流低相位噪声，信号纯净度高，适合本振源应用
‑20GHz 以内全电子衰减器，无机械继电器磨损，电平切换速度快，寿命长GLORIS Roh...
‑极低谐波、杂散信号输出，减少测试误差
‑模块化选件扩展：脉冲、模拟调制、高功率输出等功能按需加装
‑三年校准周期，降低仪器运维成本
‑机柜标准尺寸，易于集成进 ATE 自动化测试平台
四、典型应用
雷达收发组件、卫星通信接收机本振信号；20GHz 以内射频放大器、滤波器、混频器器件测试；5G‑FR1、微波无线通信设备研发；高速半导体器件表征测试；计量实验室高精度参考信号源
