产品简介
泰克 (Tektronix) 80C11‑CR4 是适配 DSA8200、DSA8300 采样示波器平台的长波长光采样插卡模块，集成 CR4 连续时钟恢复选件，覆盖 9.8‑12.6Gb/s 速率区间，适配各类 10G 通信速率光信号测试。模块光带宽 30GHz，工作波长 1100‑1650nm，单模光纤输入，眼图模板测试灵敏度‑9dBm，内置光功率监测功能，可完成眼图、消光比、Q 因子、抖动、OSNR 等多项光信号参数采集分析，支持万兆以太网、SONET/SDH 光模板一致性测试，无需外接时钟源即可完成光发射机信号采集。插卡式结构直接装入示波器主机插槽，广泛应用于 10G 光模块、光发射组件、高速激光器的信号完整性分析、实验室研发以及产品合规验证测试场景。
核心特点：
集成 CR4 时钟恢复单元，无需外部时钟输入，简化测试系统搭建，降低测试链路复杂度，适配各类标准与自定义 10G 速率信号。
30GHz 高光带宽，长波长工作区间，对 10G 光通信信号具备优异的信号还原能力，还原真实信号边沿与抖动细节。
集成光功率监测，硬件层面同步采集光功率与波形数据，减少外接仪表，提升整套测试方案集成度。
支持行业标准光模板测试，可直接输出合规判定结果，可用于光发射器件出厂一致性检测，适配产线验证需求。
采样示波器模块化架构，可多卡并行配置，便于扩展多通道测试，兼容 DSA8200/DSA8300 整机程控，便于接入自动化测试平台。
针对 10G 光通信器件深度优化，可对 NRZ、RZ 光信号做深度分析，覆盖眼图、噪声、消光比等光器件关键性能指标表征。
