微区XRF（也称为macroXRF或MA-XRF）分析，已成为表征绘画、地质样品、考古文物和工业成分等对大型样品的重要方法。M6 JETSTREAM 以最高速度和精度进行微区X荧光分析。因为其具有方向可调节以可移动式支架，使得M6 JETSTREAM 可在现场使用，无需将部分无法运输样品送至实验室检测。
垂直样品或水平表面的测量
单次描面积高达 800 x 600 mm2
"On the fly"分析，以达到最高的面扫描速度
可调节光斑大小以匹配样品尺寸
XFlash® SDD 技术，具有2 x 60 mm2 的探测器面积
可选 AMS 系统， 以对不平整表面聚焦
