回收布鲁克 S4 T-STAR 全反射X射线荧光光谱仪

S4 T-STAR® 是一种多功能工具，用于分析各种样品类型，包括悬浮液、粉末、纳米颗粒或薄膜，制样简单，无需消解，而ICP则需要完全溶解的液体样品。

TXRF 光谱仪 S4 T-STAR® 提供<ppb 范围内的最低检测限值。

TXRF 运营成本极低，无需气体、冷却介质或复杂的实验室基础设施。

自动校准功能，基本无需后期维护

优化后的测试系统支持工业级全天候不间断测试。

Bruker多样化的样品托盘和工具为用户提供了更多选择，可加快样品制备速度，降低样品污染风险。