全系通用核心光学参数
1. 波长调谐性能
标准调谐波段：1240 ~ 1640 nm（分段可选：O/ES/C+L 波段）
波长设置分辨率：0.1 pm
精细微调范围：±100 pm，0.01 pm 步进
扫描速度：1 ~ 200 nm/s（双向扫描）
扫描线性度：＜5%（相比 TSL-570 提升一倍）
无跳模连续扫描，内置相干度控制抑制干涉纹波
2. 输出功率与噪声（核心优势）
峰值输出功率：＞+15 dBm（30mW），全波段平坦度优于 TSL-570
功率动态衰减：30 dB，调节步进 0.01 dB，功率稳定度 ±0.01 dB
光谱信噪比 SNR：≥90 dB/0.1 nm，极低 ASE 底噪
边模抑制比 SMSR：典型≥45 dB
相对强度噪声 RIN：≤-148 dB/Hz（1MHz–3GHz）
光纤输出：标配 SMF 单模；可选 PM 保偏光纤；接头 FC/APC、SC/APC 可选
内置实时光功率监控端口
输出功率曲线
20kHz窄线宽光谱图
3. 通讯与控制
标配接口：触摸屏、USB2.0、GPIB、以太网（远程控制 / 唤醒）
指令集：标准 SCPI，完美适配自动化测试平台
扫描模式：单次 / 连续 / 外部同步触发扫描
4. 环境规格
工作温度：15 ~ 35 ℃
存储温湿度：-10~50℃，湿度＜80% 无凝露
四、型号命名示例
TSL-580-Q-500640-S-F-AP
Q = 窄线宽 20kHz 版本；500640=C+L 1500–1640nm；S=SMF 单模；F=FC；AP=APC 端面
五、典型应用场景
硅光 / CPO 共封装光学高损耗光栅耦合测试（Type P）
量子光子、光纤干涉传感、高精度光谱测量（Type Q）
800G/1.6T 光模块、DWDM 滤波器、WSS、光纤光栅精密表征
高速自动化产线扫描测试（200nm/s 高速扫描 + 高线性度）
高插入损耗无源器件、集成光子芯片损耗 / PDL/WDL 测试
六、TSL-580 vs TSL-570 关键升级点
输出功率：TSL570 标准 + 13dBm，TSL580 提升至+15dBm；
窄线宽能力：TSL570 最低～60kHz，TSL580 Q 型可达20kHz；
扫描线性度：TSL580 线性度＜5%，比上代提升一倍；
腔体全新重构，功率平坦度、波长长期稳定性全面优化；
2026 年全新第八代机型，面向下一代光子学研发与量产测试。
