成色要求:6-7 成新,无划痕 / 无磨损 / 外观轻微使用痕迹,二手。
基础配置:包好,有质保。
仪器介绍:6400 系列高性能机型,采样分辨率可达 20μm,最大测试长度 20 米,每秒 6 次光谱扫描,测试通量更高。专门适配硅光芯片、光子集成电路 PIC 高精度表征,可解析波导内部 TE/TM 偏振损耗差异,自动生成分布式损耗、反射光谱,适用于光芯片研发与批量产线检测。