基本参数：
1、空间分辨率 40μm，短距最大测量 100mm，适合硅光、小型光器件内部缺陷定位
2、杂散噪声‑100dB，抑制伪反射鬼影，微弱反射信号可清晰检出
3、OLCR 低相干干涉技术，测回波损耗，测量不确定度 ±3dB
4、选配传感器头可同步测回波损耗 + 插入损耗，无需反复接线
5、支持双波长同步测试，可搭配多通道切换单元实现多光纤批量检测
成色要求：6-7成新，无划痕/无磨损/外观轻微使用痕迹
基础配置：包好，有质保
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