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回收 Leica DM8000 M 半导体检测显微镜
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回收 Leica DM8000 M 半导体检测显微镜
徕卡(Leica)
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19820811703
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更新时间:2026-10-26
产品详情
成色要求:6-7成新,无划痕/无磨损/外观轻微使用痕迹
二手基础配置:包好,有质保
仪器介绍:紧凑型 8 寸晶圆光学检测系统,多模式照明,适合实验室失效分析、芯片封装外观检查。
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