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回收 Leica INM100 自动化半导体检查显微镜

徕卡(Leica)
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浏览量:2
更新时间:2026-10-27

产品详情

成色要求:6-7成新,无划痕/无磨损/外观轻微使用痕迹

二手基础配置:包好,有质保

仪器介绍:徕卡全自动平台,FOUP 晶圆自动上下料,DIC/UV 荧光,芯片缺陷复查、失效分析工作站。

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