回收 Leica DM8000 M 晶圆光学检查显微镜

成色要求:6-7成新，无划痕/无磨损/外观轻微使用痕迹

二手基础配置:包好，有质保

仪器介绍:徕卡 8 寸半导体晶圆专用光学检查显微镜，支持明场、暗场、DIC 微分干涉、OUV 斜紫外照明，防静电洁净室机型，用于晶圆划痕、颗粒、光刻缺陷检视，半导体失效分析、产线 QC 检测。