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回收 Leica DM12000 M 半导体晶圆检测显微镜

徕卡(Leica)
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更新时间:2026-11-03

产品详情

成色要求:6-7 成新,无划痕 / 无磨损 / 外观轻微使用痕迹

二手基础配置:包好,有质保

仪器介绍:徕卡 DM12000M,支持 12 寸晶圆,带 OUV 倾斜紫外模式,半导体产线缺陷检查

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