一、产品概述
PXIe-4135 是 NI 单通道 3U PXIe 模块化四象限源测量单元（SMU），提供20W/40W 两种直流功率版本，集成精密源输出与同步测量功能。配备原生三轴接口，支持 10 fA 极低电流测量，搭载 SourceAdapt 自适应环路技术，可适配容性、感性负载，抑制振荡与过冲。依托 PXIe 总线，可与示波器、开关矩阵、其他 SMU 实现纳秒级同步，广泛搭建半导体器件自动化表征、集成电路量产测试平台。
二、核心技术参数
✅ 电压范围：±200 V
✅ 电流规格
直流：±1 A
脉冲：±3 A
✅ 功率指标
标准版：直流 20W；脉冲峰值 480W
40W 版本：直流 40W；脉冲峰值 480W
✅ 测量性能：最小电流分辨率 10 fA，最高采样速率 1.8 MS/s
✅ 接口类型：前面板三轴（Triax）连接器，支持四线远程感应（Remote Sense）
✅ 运行模式：四象限（源 / 灌电流双向）
✅ 总线：PXI Express，硬件时序触发
✅ 保护功能：内置安全互锁、过压、过流、过热保护
三、关键特性
SourceAdapt 自适应瞬态响应技术，自动匹配负载特性，缩短稳定时间，减少测试振荡
三轴接口支持超低漏电测量，适合微弱电流、器件漏电表征
硬件时序引擎，支持多模块同步、高速测试序列，适配自动化产线
支持连续流式采集，高速电压 / 电流波形记录
兼容 NI-DCPower 驱动，适配 LabVIEW、Python、TestStand、C/C++ 开发
标准 3U 单槽 PXIe 尺寸，系统集成灵活，节省机柜空间
四、典型应用
功率半导体、MOSFET、IGBT 静态参数测试；PMIC、RFIC 集成电路表征；LED、光收发器件 I-V 测试；存储器漏电流测试；MEMS、二维材料、传感器精密电学测试；电路板级功耗与漏电自动化测试。
