产品详情
一、产品概述
SERIES 4000(DAGE‑4000)为诺信达格英国原厂多功能键合强度推拉力测试仪,属于半导体封装行业标杆设备,可完成焊线拉力、BGA 锡球剪切、芯片推力、凸点拉力等多种封装强度检测,支持更换不同传感器模组适配各类微电子元器件测试。
二、核心技术参数
拉力量程可选:0‑100g、0‑1kg、0‑10kg
焊球剪切量程:250g / 5kg
芯片推力测试上限:100kg‑200kg
BGA 拔球量程:0‑100g~5kg
测试精度:高精密空气轴承结构,刀头偏移量极低
工作台:电动 XY 移动平台,搭载高清显微成像系统
整机重量:标准版 45kg、Plus 高配版 90kg
供电:90‑264V 宽压交流电源,部分功能需要气源供气
三、关键特性
可快速插拔互换多种负载传感模组
具备钝化层焊球剪切、矢量拉力、镊子拉力专项测试功能
内置防反弹缓冲系统,规避冲击损伤传感器
Paragon 配套测试软件,自动保存测试曲线、批量数据统计
支持 LED、COB、SMT、车载芯片、光电器件各类封装工件检测
四、典型应用
金线铝线键合拉力检测、BGA 锡球剪切强度、晶粒推力测试、LED 芯片、PCB 贴片元件、军工高可靠微电子封装强度试验