吉时利(Keithley) 2636B 数字源表

一、基础信息 品牌沿革：Keithley 吉时利，后被 Tektronix 泰克收购 产品状态：市面流通量大，2600B 系列双通道旗舰超高精密源测量单元（SMU），2636A 升级改良型号，支持校准维护 设备定位：台式双通道独立 SMU 仪器，集成精密电压源、电流源、6.5 位万用表、脉冲发生器、电子负载；双通道完全隔离，具备 200V、0.1fA顶级微弱电流测量能力，整机标配三同轴低噪声端子，适合双端器件、光电芯片、新材料微弱漏电精密测试，适配实验室研发与自动化 ATE 测试系统 整机形态：台式整机，支持面板手动操作；搭载 TSP-Link 总线，可多台仪器级联拓展测试通道 供电规格：100~240V 交流自适应供电 二、核心规格参数 显示分辨率：6.5 位 通道配置：双通道（CH A / CH B）相互独立 SMU 通道 单通道连续直流功率：30.3W；脉冲峰值功率 200W 电压范围：±100mV ~ ±200V 电流范围：0.1fA ~ ±1.5A 直流，脉冲峰值最高 10A 测量灵敏度：电压 100nV，电流低至 0.1fA 工作模式：四象限源 / 阱双向输出 测量模式：2 线本地测量、4 线远程感应测量 采集速率：最高 20000 读数 / 秒 通讯接口：LAN (LXI)、GPIB、RS232、USB2.0、前置 USB 存储、TSP-Link 同步总线、数字 I/O 内置功能：TSP 嵌入式脚本处理器、Contact Check 接触状态检测 测量端子：前后板三同轴端子，抑制外界电磁噪声，保障微电流稳定测量 三、核心性能参数 双通道完全隔离，可独立驱动被测器件，支持高精度同步扫描，适配 MOSFET、光电阵列等双端元器件差分测试 四象限双向工作，既能输出激励，也可吸收电流充当电子负载，完整采集器件暗电流、漏电、击穿、I-V 特性曲线 可编程电压、电流软硬双重限值，保护光电探测器、高压半导体芯片，防止过压过流损毁 内置多级数字滤波，有效抑制电磁干扰，兼顾大功率稳态测试与超微弱飞安级电流测量 Contact Check 接触检测功能，自动识别探针、测试线缆虚接，避免无效测试数据 支持直流连续扫描、窄脉冲测试模式，降低被测器件持续发热损伤 TSP-Link 总线支持最多 32 台设备同步级联，搭建大规模多通道并行测试平台 前后端子自由切换，兼顾桌面研发调试与机柜自动化集成 兼容 SCPI 指令，支持 2400 系列源表代码仿真，老旧测试程序可平滑迁移 四、内置标准测量功能 直流电压、直流电流、电阻测量 电压扫描、电流扫描，生成器件 I-V 特性曲线 连接状态自动检测、测试异常告警 连续长时间数据记录、超限判定、测量数据统计运算 四线制测量消除引线压降带来的测量误差 支持 TSP 本地脚本、SCPI 远程程控，实现器件全自动批量测试 五、硬件接口与操控 前面板：真空荧光显示屏、功能按键、调节旋钮、双通道三同轴测量端子、前置 USB 接口 背板：电源输入、LAN 网口、GPIB、RS232、USB 通讯接口、TSP-Link 拓展接口、数字 I/O 触发、后置三同轴测量端子 操控方式：面板按键本地操作，GPIB/LAN/USB 远程程控 机箱规格：标准台式机箱，支持 19 英寸机柜上架 六、典型应用场景 光电探测器、光伏器件暗电流、微弱漏电高精度测试 高压二极管、TVS、MOSFET 反向漏电流、击穿特性表征 有机半导体、阻变材料、高阻新材料微电流特性研究 MEMS 传感器、光电器件阵列双通道并行测试 高校实验室、科研单位双通道超高灵敏度电学表征平台